12月27日，加拿大阿尔伯塔大学副教授韩杰博士应邀到物联网工程学院交流访问，并为师生做了题为“Accurate and Efficient Reliability Evaluation of Logic Circuits（准确和高效的逻辑电路可靠性评估方法）”的学术报告。由于现在的CMOS技术进入纳米制度，而且用于逻辑电路可靠性评估的分析方法的计算复杂度随着电路尺寸呈指数增长，因此大电路的可靠性已成为主要关注的问题。韩杰博士在报告中针对上述问题首先回顾了可靠性评估的常用技术，重点介绍了随机计算模型，给出了仿真结果比较，并分析了计算精度方面的局限性。另外，韩博士还介绍了自己关于随机晶体管模型研究工作的进展情况，与在场的师生进行了深入的交流与探讨。
韩杰博士简介：
加拿大阿尔伯塔大学电子与计算机工程系的副教授，研究方向包括近似计算，随机计算，可靠性和容错性，纳电子电路和系统，纳米级和生物应用的新型计算模型。韩博士和合作者在 International Symposium on Nanoscale Architectures 2015 (NanoArch 2015) 上获得最佳论文奖，在the 25th Great Lakes Symposium on VLSI 2015 (GLSVLSI 2015) 和 NanoArch 2016上获得最佳论文提名。2006年被提名为Christiaan荷兰皇家科学院惠更斯科学奖。他因为发展了纳米电路容错理论（2005），得到科学界的认可。目前任IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing（TETC）和IEEE Transactions on Nanotechnology的副主编。他曾担任2017年GLSVLSI、IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI 和Nanotechnology Systems (DFT 2013)的主席, 同时还担任过GLSVLSI 2016 和DFT 2012 的技术委员会主席。
加拿大阿尔伯塔大学始建于1908年，距今已有百年历史之久。阿尔伯塔大学是加拿大最佳的研究型大学之一，同时是加拿大G13大学联盟的成员，多年来在不同的大学排名榜上与多伦多大学、麦吉尔大学、英属哥伦比亚大学一起稳居加拿大优秀大学前五位。
